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Переклад Французька на Англійська wafer

Французька
Англійська

FR Verre wafer innovant, WLCSP et produits de passivation

EN Innovative wafer glass, WLCSP, and passivation products

Французька Англійська
innovant innovative
wafer wafer
verre glass
produits products
et and

FR MEMpax® et BOROFLOAT® sont des verres borosilicatés plats et extrèmement homogènes qui conviennent parfaitement au collage anodique, tandis que FLEXINITY® est une gamme de produits innovants de substrats structurés en plaquettes (wafer) et verre

EN MEMpax® and BOROFLOAT® are flat, highly homogenous borosilicate glasses that are ideally suited to anodic bonding, while FLEXINITY® is an innovative portfolio of structured wafer and glass substrates

Французька Англійська
innovants innovative
structuré structured
wafer wafer
verre glass
verres glasses
de of
et and
sont are
parfaitement ideally
est is

FR Verre wafer innovant, WLCSP et produits de passivation

EN Innovative wafer glass, WLCSP, and passivation products

Французька Англійська
innovant innovative
wafer wafer
verre glass
produits products
et and

FR MEMpax® et BOROFLOAT® sont des verres borosilicatés plats et extrèmement homogènes qui conviennent parfaitement au collage anodique, tandis que FLEXINITY® est une gamme de produits innovants de substrats structurés en plaquettes (wafer) et verre

EN MEMpax® and BOROFLOAT® are flat, highly homogenous borosilicate glasses that are ideally suited to anodic bonding, while FLEXINITY® is an innovative portfolio of structured wafer and glass substrates

Французька Англійська
innovants innovative
structuré structured
wafer wafer
verre glass
verres glasses
de of
et and
sont are
parfaitement ideally
est is

FR Connaître la position et le sens d’un wafer de semi-conducteur est essentiel lors du processus de fabrication des wafers

EN Knowing the position and orientation of a semiconductor wafer is critical during the wafer fabrication process

Французька Англійська
position position
essentiel critical
wafer wafer
processus process
de of
dun a
connaître and

FR Pour ce faire, l’encoche sur le wafer est surveillée afin de déterminer le sens de ce dernier à chaque étape

EN This is done by monitoring a notch on the wafer to understand the wafer’s orientation through each step

Французька Англійська
étape step
wafer wafer
ce this
à to
le the
déterminer understand
sur on
est done

FR Les wafers ayant un coût compris entre 5 000 $ et plus de 100 000 $, un mauvais alignement au cours du processus de fabrication peut entraîner des défauts graves et irréparables, avec pour seule issue la mise au rebut du wafer.

EN With wafers costing anywhere between $5,000 to more than $100,000, any misalignment during the fabrication process can result in serious and irreparable defects, requiring the wafer to be scrapped.

Французька Англійська
défauts defects
graves serious
issue result
wafer wafer
processus process
la the
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et and
plus more
peut can

FR Les méthodes classiques permettant de localiser l’encoche utilisent un capteur optique laser à faisceau traversant qui nécessite de positionner un émetteur et un récepteur encombrants au-dessus et au-dessous du wafer

EN Traditional methods for finding the notch use a thru-beam array laser optic sensor that requires a bulky transmitter and receiver positioned above and below the wafer

Французька Англійська
méthodes methods
classiques traditional
utilisent use
capteur sensor
optique optic
laser laser
faisceau beam
nécessite requires
wafer wafer
un a
récepteur receiver
dessous below
émetteur transmitter
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à and

FR Cela occupe un espace mécanique précieux et prend du temps, car le wafer tourne jusqu’à ce que l’encoche soit localisée

EN This takes up valuable mechanical space and adds time while the wafer rotates until the notch is found

Французька Англійська
mécanique mechanical
précieux valuable
wafer wafer
espace space
ce this
prend takes
le the
jusqu until
et and
temps time

FR Les systèmes de vision In-Sight de Cognex identifient précisément l’encoche et la position XY du wafer à 0,025 pixel près

EN Cognex In-Sight vision systems accurately identify the wafer’s notch and XY position with an accuracy down to 0.025 pixels

Французька Англійська
systèmes systems
cognex cognex
identifient identify
position position
pixel pixels
vision vision
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précisément accurately
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et and

FR L’algorithme PatMax de Cognex détecte avec précision l’encoche du wafer quelle que soit sa position, puis transmet les données de position et de mesure au robot d’assemblage ou à l’API

EN Cognex’s PatMax algorithm accurately detects the wafer’s notch in any orientation and outputs the position and dimensional data back to the assembly robot or PLC

Французька Англійська
détecte detects
position position
données data
ou or
à to
et and
avec précision accurately
robot robot

FR Par ailleurs, le format ultra-compact du système de vision répond à des contraintes d’encombrement extrêmement strictes, ce qui élimine la nécessité de placer un capteur optique au-dessus et au-dessous du wafer.

EN Plus, the vision system ultra-compact body design satisfies extremely tight footprint constraints, which eliminates the need for a laser optic sensor to be positioned above and below the wafer.

Французька Англійська
format design
système system
vision vision
contraintes constraints
extrêmement extremely
élimine eliminates
nécessité need
capteur sensor
optique optic
wafer wafer
un a
n footprint
dessous below
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et and

FR Cognex dispose également d’un système d’optique surbaissé breveté qui permet de visualiser le wafer dans son intégralité si les fabricants n’ont pas la possibilité de monter une optique à une distance de travail plus longue.

EN Cognex also has a patented low-profile optics system for viewing the entire wafer in cases where manufacturers cannot mount a lens at a longer working distance.

Французька Англійська
cognex cognex
système system
breveté patented
fabricants manufacturers
monter mount
distance distance
travail working
wafer wafer
longue longer
également also
de for
optique optics
une a
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les cannot

FR Analysez chaque couche de wafer pour détecter les défauts et d’autres anomalies indésirables

EN Analyze each wafer layer for defects and other unwanted anomalies

Французька Англійська
analysez analyze
couche layer
défauts defects
anomalies anomalies
indésirables unwanted
wafer wafer
de other
et and
chaque each
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FR L’éventail de défauts possibles est vaste et ces derniers peuvent survenir à n’importe quel endroit sur le wafer circulaire

EN The field of possible defects is large, and they can be located anywhere on the circular wafer

Французька Англійська
défauts defects
vaste large
circulaire circular
wafer wafer
de of
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sur anywhere
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