FR La technologie PatMax permet la localisation précise, rapide et fiable des wafers et puces pour l’inspection, le contrôle électrique sous pointes, le montage, la découpe et le test des wafers afin d’éviter ces problèmes
FR La technologie PatMax permet la localisation précise, rapide et fiable des wafers et puces pour l’inspection, le contrôle électrique sous pointes, le montage, la découpe et le test des wafers afin d’éviter ces problèmes
DE Die PatMax-Technologie bietet eine robuste, präzise und schnelle Wafer- und Chipmuster-Lokalisierung für Wafer-Inspektions-, -Test-, -Montage-, -Dicing- und Prüf-Ausrüstung, um diese Probleme zu vermeiden
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FR Les solutions Cognex sont essentielles à chaque étape du processus de fabrication des dispositifs semi-conducteurs, de la fabrication des wafers au montage et au conditionnement des circuits intégrés.
DE Die Lösungen von Cognex übernehmen im gesamten Waferbauteil-Fertigungsprozess, von der Wafer-Herstellung bis hin zur Verpackung und Montage von integrierten Schaltungen (IC), eine entscheidende Funktion.
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solutions | lösungen |
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fabrication | herstellung |
montage | montage |
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FR Les solutions Cognex sont essentielles à chaque étape du processus de fabrication des dispositifs semi-conducteurs, de la fabrication des wafers au montage et au conditionnement des circuits intégrés.
DE Die Lösungen von Cognex übernehmen im gesamten Waferbauteil-Fertigungsprozess, von der Wafer-Herstellung bis hin zum Packaging und zur Montage von integrierten Schaltungen (IC), eine entscheidende Funktion.
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montage | montage |
circuits | schaltungen |
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FR Décodez systématiquement les marques d’identification des wafers pour les suivre de façon fiable avant leur découpage
DE Wafer-ID-Markierungen für zuverlässige Wafer-Verfolgung vor dem Dicingprozess kontinuierlich dekodieren
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suivre | verfolgung |
fiable | zuverlässige |
FR Détection des encoches des wafers – Électronique | Cognex
DE Erkennung der Wafer Notch– Elektronik | Cognex
FR Conservez un alignement précis des wafers de semi-conducteurs malgré des contraintes d’espace restreint
DE Die genaue Ausrichtung von Halbleiter-Wafern mit engen räumlichen Konstruktionsgrenzen gewährleisten
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alignement | ausrichtung |
précis | genaue |
semi-conducteurs | halbleiter |
FR Connaître la position et le sens d’un wafer de semi-conducteur est essentiel lors du processus de fabrication des wafers
DE Die Position und Ausrichtung eines Halbleiter-Wafers zu kennen, ist bei der Herstellung von Wafern wesentlich
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position | position |
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FR Les wafers ayant un coût compris entre 5 000 $ et plus de 100 000 $, un mauvais alignement au cours du processus de fabrication peut entraîner des défauts graves et irréparables, avec pour seule issue la mise au rebut du wafer.
DE Da Wafer zwischen 5.000 $ und über 100.000 $ kosten, kann jede fehlerhafte Ausrichtung während des Fertigungsprozesses zu schweren und irreparablen Schäden führen, so dass der Wafer ausgesondert werden muss.
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FR Alignement des wafers et puces – Électronique | Cognex
DE Wafer- und Chipausrichtung – Elektronik | Cognex
FR Alignez précisément les wafers et les puces pour garantir des performances fiables
DE Für zuverlässige Leistung Wafer und Chips genau ausrichten
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FR PatMax utilise des algorithmes de reconnaissance géométrique brevetés pour localiser et aligner les wafers et les puces variables
DE PatMax verwendet patentierte geometrische Mustererkennungsaglorithmen, um verschiedene Wafer- und Chipmuster zu lokalisieren und auszurichten
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FR Celle-ci aligne les wafers et les puces avec une précision et une reproductibilité élevées, garantissant ainsi des performances fiables tout au long du processus de fabrication de semi-conducteurs
DE Sie richtet Wafer und Chips mit hoher Präzision und Wiederholbarkeit aus und gewährleistet dadurch zuverlässige Ausrüstungsleistung während des Halbleiter-Herstellungsprozesses
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semi-conducteurs | halbleiter |
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FR Inspection des défauts des wafers de semi-conducteurs – Électronique | Cognex
DE Fehlerprüfung von Halbleiter-Wafern – Elektronik | Cognex
FR Inspection des défauts des wafers de semi-conducteurs
DE Fehlerprüfung von Halbleiter-Wafern
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