ES La identificación de un wafer puede degradarse durante los varios procesos fotolitográficos, de enmascaramiento y grabado, lo que los torna difíciles de decodificar por el fondo reflejante del wafer.
"wafer" သို့ အင်္ဂလိပ်စာ သို့ဘာသာပြန်ပါ
ငပိ မှ အင်္ဂလိပ်စာ သို့စကားစု "wafer" ကိုဘာသာပြန်ဆိုထားသော 26 ဘာသာပြန်ဆိုမှု၏ 26 ကိုပြထားသည်။
wafer ၏ ငပိ မှ အင်္ဂလိပ်စာ သို့ ဘာသာပြန်ခြင်း
ငပိ
အင်္ဂလိပ်စာ
EN A wafer ID may degrade during various masking, etching, and photolithographic processes, becoming difficult to decode due to the reflective background of the wafer.
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| identificación | id |
| procesos | processes |
| enmascaramiento | masking |
| difíciles | difficult |
| decodificar | decode |
| fondo | background |
| wafer | wafer |
| un | a |
| que | becoming |
| puede | may |
| de | of |
| y | and |
ES Muchos pasos del proceso de fabricación de semiconductores requieren una alineación muy precisa, como el proceso de fotolitografía, sondeo y prueba de wafer, y montaje y corte de wafer
EN Many steps of the semiconductor manufacturing process require highly precise alignment, such as the photolithography process, wafer probe and test, wafer mounting, and dicing
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| semiconductores | semiconductor |
| requieren | require |
| alineación | alignment |
| precisa | precise |
| wafer | wafer |
| fabricación | manufacturing |
| prueba | test |
| montaje | mounting |
| el | the |
| proceso | process |
| muy | highly |
| muchos | many |
| pasos | steps |
| como | as |
ES La tecnología PatMax ofrece una localización sólida, precisa y rápida de patrones de wafer y troqueles para la inspección, exploración, montaje, corte y prueba de wafer en equipos para ayudar a evitar estos problemas
EN PatMax technology provides robust, accurate, and fast wafer and die pattern location for wafer inspection, probing, mounting, dicing, and testing equipment to help avoid these problems
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| tecnología | technology |
| sólida | robust |
| precisa | accurate |
| rápida | fast |
| patrones | pattern |
| inspección | inspection |
| prueba | testing |
| evitar | avoid |
| problemas | problems |
| wafer | wafer |
| ofrece | provides |
| montaje | mounting |
| equipos | equipment |
| a | to |
| ayudar | to help |
| estos | these |
ES Las soluciones de Cognex son esenciales para cada paso del proceso de fabricación de dispositivos semiconductores, desde la fabricación del wafer hasta el empaquetado y montaje del circuito integrado (IC).
EN Cognex solutions are essential to every step of the semiconductor device manufacturing process, from wafer fabrication to integrated circuit (IC) packaging and mounting.
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| soluciones | solutions |
| cognex | cognex |
| esenciales | essential |
| dispositivos | device |
| semiconductores | semiconductor |
| empaquetado | packaging |
| circuito | circuit |
| integrado | integrated |
| wafer | wafer |
| proceso | process |
| montaje | mounting |
| fabricación | manufacturing |
| de | of |
| son | are |
| paso | step |
| y | and |
| cada | every |
| desde | from |
ES Las soluciones de Cognex son esenciales para cada paso del proceso de fabricación de dispositivos semiconductores, desde la fabricación del wafer hasta el empaquetado y montaje del circuito integrado (CI).
EN Cognex solutions are essential to every step of the semiconductor device manufacturing process, from wafer fabrication to integrated circuit (IC) packaging and mounting.
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| soluciones | solutions |
| cognex | cognex |
| esenciales | essential |
| dispositivos | device |
| semiconductores | semiconductor |
| empaquetado | packaging |
| circuito | circuit |
| integrado | integrated |
| wafer | wafer |
| proceso | process |
| montaje | mounting |
| fabricación | manufacturing |
| de | of |
| son | are |
| paso | step |
| y | and |
| cada | every |
| desde | from |
ES Decodificar en forma consistente las marcas de identificación de wafer para su seguimiento confiable antes del proceso de corte
EN Consistently decode wafer ID marks for reliable tracking of wafers prior to the dicing process
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| decodificar | decode |
| consistente | consistently |
| marcas | marks |
| identificación | id |
| seguimiento | tracking |
| proceso | process |
| wafer | wafer |
| de | of |
| en | prior |
| antes | to |
ES Los wafer cuentan con números de identificación grabados con láser en una pequeña área del disco de silicio
EN Wafers have laser-marked ID numbers that are placed onto a small area of the silicon disk
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| identificación | id |
| láser | laser |
| pequeña | small |
| área | area |
| disco | disk |
| silicio | silicon |
| a | a |
| en | onto |
ES Estos lectores de wafer utilizan iluminación adaptable integrada y procesamiento de imágenes para una formación óptima de imágenes para una variedad de métodos de marcado, incluidos los códigos alfanuméricos y SEMI-T7 Data Matrix
EN These wafer readers use integrated, adaptable lighting and image processing to provide optimal image formation for a variety of marking methods, including alphanumeric and SEMI-T7 Data Matrix codes
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| lectores | readers |
| iluminación | lighting |
| adaptable | adaptable |
| integrada | integrated |
| procesamiento | processing |
| imágenes | image |
| formación | formation |
| óptima | optimal |
| variedad | variety |
| métodos | methods |
| marcado | marking |
| códigos | codes |
| alfanuméricos | alphanumeric |
| data | data |
| wafer | wafer |
| incluidos | including |
| una | a |
| de | of |
| y | and |
| estos | these |
ES El In-Sight 1740 garantiza que los códigos se lean en forma rápida y precisa, lo que permite una trazabilidad de wafer precisa.
EN The In-Sight 1740 ensures codes are read quickly and accurately enabling accurate wafer traceability.
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| códigos | codes |
| rápida | quickly |
| trazabilidad | traceability |
| wafer | wafer |
| en | in |
| el | the |
| garantiza | ensures |
| precisa | accurate |
ES Durante el proceso de fabricación del wafer semiconductor, conocer su posición y orientación es fundamental
EN Knowing the position and orientation of a semiconductor wafer is critical during the wafer fabrication process
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| fabricación | fabrication |
| conocer | knowing |
| orientación | orientation |
| fundamental | critical |
| semiconductor | semiconductor |
| wafer | wafer |
| el | the |
| es | is |
| posición | position |
| proceso | process |
| de | of |
| y | and |
| durante | during |
ES Para esto se controla una marca en el wafer para detectar su orientación en cada etapa
EN This is done by monitoring a notch on the wafer to understand the wafer’s orientation through each step
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| orientación | orientation |
| wafer | wafer |
| se | is |
| el | the |
| etapa | step |
| marca | to |
| en | on |
| cada | each |
| una | a |
| esto | this |
ES Dado que los wafers pueden costar entre $5,000 y más de $100,000, cualquier error en la alineación durante el proceso de fabricación puede causar defectos graves e irreversibles que harían descartar el wafer.
EN With wafers costing anywhere between $5,000 to more than $100,000, any misalignment during the fabrication process can result in serious and irreparable defects, requiring the wafer to be scrapped.
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| defectos | defects |
| graves | serious |
| wafer | wafer |
| en | in |
| proceso | process |
| puede | can |
ES Los métodos tradicionales para detectar la marca utilizan un sensor óptico láser de matriz de haz pasante que necesita de un voluminoso transmisor y receptor situado por encima y por debajo del wafer
EN Traditional methods for finding the notch use a thru-beam array laser optic sensor that requires a bulky transmitter and receiver positioned above and below the wafer
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| métodos | methods |
| tradicionales | traditional |
| láser | laser |
| matriz | array |
| transmisor | transmitter |
| receptor | receiver |
| situado | positioned |
| wafer | wafer |
| sensor | sensor |
| la | the |
| un | a |
| de | finding |
| y | and |
ES Esto consume valioso espacio mecánico y agrega tiempo porque hay que rotar el wafer hasta que se detecta la marca
EN This takes up valuable mechanical space and adds time while the wafer rotates until the notch is found
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| valioso | valuable |
| mecánico | mechanical |
| agrega | adds |
| wafer | wafer |
| espacio | space |
| tiempo | time |
| y | and |
| se | is |
| esto | this |
ES Los sistemas de visión In-Sight de Cognex identifican con precisión la marca y la posición en los ejes XY del wafer, con una precisión de 0.025 píxeles
EN Cognex In-Sight vision systems accurately identify the wafer’s notch and XY position with an accuracy down to 0.025 pixels
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| sistemas | systems |
| cognex | cognex |
| identifican | identify |
| posición | position |
| píxeles | pixels |
| visión | vision |
| la | the |
| en | in |
| marca | to |
| precisión | accuracy |
| con precisión | accurately |
ES El algoritmo PatMax de Cognex detecta con precisión la marca del wafer en cualquier orientación e informa la posición y los datos dimensionales al robot de montaje o PLC
EN Cognex’s PatMax algorithm accurately detects the wafer’s notch in any orientation and outputs the position and dimensional data back to the assembly robot or PLC
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| algoritmo | algorithm |
| detecta | detects |
| orientación | orientation |
| montaje | assembly |
| plc | plc |
| o | or |
| en | in |
| datos | data |
| marca | to |
| posición | position |
| robot | robot |
| con precisión | accurately |
ES Además, el diseño ultracompacto del cuerpo del sistema de visión satisface las limitaciones de espacio extremadamente estrechas, lo que elimina la necesidad de colocar un sensor óptico láser por encima y por debajo del wafer.
EN Plus, the vision system ultra-compact body design satisfies extremely tight footprint constraints, which eliminates the need for a laser optic sensor to be positioned above and below the wafer.
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| satisface | satisfies |
| limitaciones | constraints |
| elimina | eliminates |
| sensor | sensor |
| láser | laser |
| wafer | wafer |
| diseño | design |
| cuerpo | body |
| extremadamente | extremely |
| ser | be |
| sistema | system |
| un | a |
| visión | vision |
| necesidad | need |
| además | to |
ES Wafer y alineación de troqueles – Electrónica | Cognex
EN Wafer and Die Alignment – Electronics | Cognex
ES Alinear con precisión wafer y troqueles para garantizar un rendimiento confiable
EN Accurately align wafer and dies to ensure reliable performance
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| alinear | align |
| wafer | wafer |
| y | and |
| rendimiento | performance |
| garantizar | ensure |
| con precisión | accurately |
| para | to |
ES Cognex también tiene patentado un sistema óptico de bajo perfil para ver el wafer completo en aquellos casos donde los fabricantes no pueden montar un lente a una distancia de trabajo más larga.
EN Cognex also has a patented low-profile optics system for viewing the entire wafer in cases where manufacturers cannot mount a lens at a longer working distance.
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| cognex | cognex |
| patentado | patented |
| perfil | profile |
| fabricantes | manufacturers |
| montar | mount |
| lente | lens |
| distancia | distance |
| wafer | wafer |
| larga | longer |
| tiene | has |
| sistema | system |
| el | the |
| en | in |
| también | also |
| un | a |
| casos | cases |
| donde | where |
| bajo | low |
| para | for |
ES Además de las ineficiencias de producción, una alineación deficiente puede disminuir el rendimiento de los wafer y la funcionalidad eléctrica de los circuitos de los troqueles.
EN In addition to production inefficiencies, poor alignment can decrease wafer yields and electrical functionality of die circuits.
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| ineficiencias | inefficiencies |
| alineación | alignment |
| disminuir | decrease |
| eléctrica | electrical |
| circuitos | circuits |
| wafer | wafer |
| producción | production |
| puede | can |
| funcionalidad | functionality |
| de | of |
| y | and |
| rendimiento | yields |
| además | to |
ES PatMax utiliza algoritmos geométricos patentados de localización de patrones geométricos para localizar y alinear los diversos patrones de wafer y troqueles
EN PatMax uses patented geometric pattern-finding algorithms to locate and align variable wafer and die patterns
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| utiliza | uses |
| algoritmos | algorithms |
| geométricos | geometric |
| patentados | patented |
| alinear | align |
| wafer | wafer |
| localizar | locate |
| patrones | patterns |
ES Alinear wafer y troqueles con gran precisión y repetibilidad, garantizando el rendimiento confiable de los equipos durante todo el proceso de fabricación de semiconductores
EN It aligns wafers and dies with high accuracy and high repeatability, ensuring reliable equipment performance throughout the semiconductor manufacturing process
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| gran | high |
| garantizando | ensuring |
| equipos | equipment |
| semiconductores | semiconductor |
| precisión | accuracy |
| el | the |
| fabricación | manufacturing |
| rendimiento | performance |
| proceso | process |
| con | with |
| confiable | reliable |
ES Analizar cada capa del wafer en busca de defectos y otras anomalías no deseadas
EN Analyze each wafer layer for defects and other unwanted anomalies
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| analizar | analyze |
| capa | layer |
| defectos | defects |
| otras | other |
| anomalías | anomalies |
| wafer | wafer |
| cada | each |
ES Las capas de los wafers pueden presentar rayaduras, defectos de giro, problemas de exposición, contaminación por partículas, hot spots, defectos en los bordes del wafer y una amplia variedad de otros defectos que afectan al rendimiento final del chip.
EN Wafer layers can show scratches, spin defects, exposure problems, particle contamination, hot spots, wafer edge flaws, and a wide range of other defects that affect eventual chip performance.
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| capas | layers |
| giro | spin |
| problemas | problems |
| contaminación | contamination |
| partículas | particle |
| hot | hot |
| spots | spots |
| bordes | edge |
| amplia | wide |
| variedad | range |
| afectan | affect |
| chip | chip |
| wafer | wafer |
| defectos | defects |
| exposición | exposure |
| otros | other |
| rendimiento | performance |
| presentar | show |
| pueden | can |
| de | of |
| una | a |
| y | and |
| que | that |
ES La variedad de posibles defectos es grande y se pueden ubicar en cualquier lugar del wafer circular
EN The field of possible defects is large, and they can be located anywhere on the circular wafer
| ငပိ | အင်္ဂလိပ်စာ |
|---|---|
| defectos | defects |
| circular | circular |
| wafer | wafer |
| la | the |
| es | is |
| en | on |
| de | of |
| grande | large |
| y | and |
| posibles | can |
| en cualquier lugar | anywhere |
ဘာသာပြန်ချက်များကို 26 မှ 26 ကိုပြနေသည်
အလားတူ ဘာသာပြန်များ
wafer fabricación del wafer alinear wafer debajo del wafer prueba de wafer xy del waferwafer ကို အခြားဘာသာစကားသို့ ဘာသာပြန်ပါ။
ကတ်တလန် 
ကိုးရီးယား 
ချက် 
ဂျပန်လူမျိုး 
ဂျာမန် 
တရုတ်လူမျိုး 
တူရကီ 
ထိုင်း 
ဒတ်ခ်ျ 
ဒိ 
နျော 
ပိုလန် 
ပေါ်တူဂီ 
ပြင်သစ် 
ဖင်လန် 
ဗီယက်နမ်လူမျိုး 
ရုရှ 
ဟန်ဂေရီ 
အင်ဒိုနီးရှား 
အင်္ဂလိပ်စာ 
အာရပ် 
အီတလီ